Выберите категорию обращения:
Общие вопросы
Отчеты
Рейтинги
Мониторинговый отчёт
Диссертационные советы
Конкурсы
Ввод данных
Структура организаций
Аспирантура
Научное оборудование
Импорт педагогической нагрузки
Журналы и импакт-факторы
Тема обращения:
Описание проблемы:
Введите почтовый адрес:
ИСТИНА
Войти в систему
Регистрация
ИСТИНА ИНХС РАН
Главная
Поиск
Статистика
О проекте
Помощь
Рефлектометрическая установка для контроля электрофизических параметров полупроводников
статья
Авторы:
Новик В.К.
, Карманова Э.М.
Журнал:
Метрология
Номер:
7
Год издания:
1979
Издательство:
Стандартинформ
Местоположение издательства:
М.
Первая страница:
52
Последняя страница:
56
Добавил в систему:
Новик Виталий Константинович