Аннотация:Модельными расчетами показано, что с помощью поляризационного анализа отраженного излучения в экспериментах по мессбауэровской рефлектометрии, проводимых на синхротронах, можно извлечь информацию о направлении намагниченности в образце и реальном распределении по величинам сверхтонкого поля. Форма π→σ спектра отражения (т.е. с поляризацией отличной от падающей) позволяет однозначно определить ориентацию Bhf(i) и функцию распределения P(Bhf(i).)