Выберите категорию обращения:
Общие вопросы
Отчеты
Рейтинги
Мониторинговый отчёт
Диссертационные советы
Конкурсы
Ввод данных
Структура организаций
Аспирантура
Научное оборудование
Импорт педагогической нагрузки
Журналы и импакт-факторы
Тема обращения:
Описание проблемы:
Введите почтовый адрес:
ИСТИНА
Войти в систему
Регистрация
ИСТИНА ИНХС РАН
Главная
Поиск
Статистика
О проекте
Помощь
Application of Raman spectrometry for the characterization of complex oxide thin films grown by MOCVD
статья
Информация о цитировании статьи получена из
Web of Science
Дата последнего поиска статьи во внешних источниках: 23 марта 2017 г.
Авторы:
Güttler B.
,
Gorbenko O.Yu
,
Novozhilov M.A.
, Samoilenkov S.V.,
Amelichev V.A.
,
Wahl G.
,
Zandbergen H.W.
Журнал:
JOURNAL DE PHYSIQUE
Том:
9
Номер:
PR8
Год издания:
1999
Первая страница:
Pr8
Последняя страница:
1179–Pr8–1186
Добавил в систему:
Амеличев Вадим Анатольевич