|
ИСТИНА |
Войти в систему Регистрация |
ИСТИНА ИНХС РАН |
||
X-Ray Study of Bulk Makrodefects in Siliconстатья
- Авторы: Shulakov E.V., Suvorov E.V., Smirnova I.A., Ossipuan Yu A., Mi’vidskii M.G.
- Сборник: Fourth International Conference Single Crystal Growth and Heat & Mass Transfer
- Том: 3
- Год издания: 2001
- Место издания: Obninsk
- Первая страница: 563
- Последняя страница: 570
- Добавил в систему: Суворов Эрнест Витальевич