|
ИСТИНА |
Войти в систему Регистрация |
ИСТИНА ИНХС РАН |
||
Characterization of junctions based on multilayer electrodes for application as X-ray detectorsстатья
- Авторы: Golubov A.A., Hamster A.W., Kupriyanov M.Yu, Flokstra J., Rogalla H.
- Сборник: Proceedings of the 7th Int. Workshop on Low Temperature Detectors LTD-7, 27 July - 2 August 1997
- Год издания: 1997
- Место издания: Munich, Germany
- Первая страница: 16
- Последняя страница: 17
- Добавил в систему: Куприянов Михаил Юрьевич