Новый высокочувствительный рентгеновский метод определения локальных деформаций поверхности кристаллов с помощью ”изгибных интерференционных полос“статьяПереводБеседа, интервьюНаучная хроникаЭлектронная публикацияРецензияНаучно-популярная статьяСтатья в энциклопедииНаучная брошюраГлава в книгеАвтореферат диссертацииТезисы
Статья опубликована в журнале из списка RSCI Web of Science