|
ИСТИНА |
Войти в систему Регистрация |
ИСТИНА ИНХС РАН |
||
Развитие рентгенодифракционных методов для исследования поведения дефектной структуры кристаллов при воздействии внешнего электрического поля и для характеризации пьезоэлектрических свойствтезисы доклада
- Авторы: Марченков Н.В., Благов А.Е., Писаревский Ю.В., Куликов А.Г., Просеков П.А., Кондратьев О.А., Ковальчук М.В.
- Сборник: Сборник тезисов Первого российского кристаллографического конгресса, Москва, ВДНХ, 21-26 ноября 2016 г
- Тезисы
- Год издания: 2016
- Место издания: ООО "НП-Принт" СПб
- Первая страница: 130
- Последняя страница: 130
- Добавил в систему: Ковальчук Михаил Валентинович