Аннотация:Измерение размеров наночастиц является одной из важных задач при исследовании их физико-химических свойств. В настоящее время для определения размеров наночастиц применяются методы статического и динамического рассеяния света, а также методы атомно-силовой и растровой электронной микроскопии. В данной работе сообщается о применении непрерывного вейвлет-преобразования изображения растрового электронного микроскопа для определения
среднего размера алмазных наночастиц. Непрерывное вейвлет-преобразование вычисляется в частотной области с применением быстрого преобразовании Фурье. Переход в частотную область позволяет сократить время преобразования на четыре порядка, а также конструировать
ортогональные вейвлеты с дробными масштабными коэффициентами и прямоугольной амплитудной
характеристикой, что невозможно при использовании дискретного вейвлет-преобразования.
Полученные результаты находятся в хорошем согласии с данными измерения размеров наночастиц,
выполненными с помощью атомно-силового микроскопа.