|
ИСТИНА |
Войти в систему Регистрация |
ИСТИНА ИНХС РАН |
||
X-Ray Reflectometry for Comparison of Structural Organization of Fullerenes C60/C70 in Polystyrene Thin Filmsстатья
Информация о цитировании статьи получена из
Web of Science
Статья опубликована в журнале из списка Web of Science и/или Scopus
Дата последнего поиска статьи во внешних источниках: 15 декабря 2021 г.
- Авторы: Tropin T.V., Karpets M.L., Kosiachkin Ye, Aksenov V.L.
- Журнал: Journal of Surface Investigation: X-ray, Synchrotron and Neutron Techniques
- Том: 15
- Номер: 4
- Год издания: 2021
- Издательство: Pleiades Publishing, Ltd
- Местоположение издательства: Road Town, United Kingdom
- Первая страница: 768
- Последняя страница: 772
- DOI: 10.1134/s1027451021040224
- Аннотация: Thin films of polystyrene–fullerene C60/C70 nanocomposites were prepared by spin-coating the corresponding toluene solutions. The structural organization of the nanoparticles in the polymer matrix was investigated by X-ray reflectometry. For both fullerene molecules, the layer on the substrate was detected by model fitting of the reflectivity curves. We obtain that the thickness of this layer was similar for C70 and for C60 at the same concentrations of the initial solution.
- Добавил в систему: Тропин Тимур Васильевич