|
ИСТИНА |
Войти в систему Регистрация |
ИСТИНА ИНХС РАН |
||
Dielectric permittivity of organosilicate glass thin films on a sapphire substrate determined using time-domain THz and Fourier IR spectroscopyстатья
- Авторы: Komandin G.A., Nozdrin V.S., Chernomyrdin N.V., Seregin D.S., Vishnevskiy A.S., Kurlov V.N., Vorotilov K.A., Miakonkikh A.V., Lomov A.A., Rudenko K.V., Spektor I.E.
- Журнал: Journal of Physics D
- Том: 55
- Номер: 2
- Год издания: 2022
- DOI: 10.1088/1361-6463/ac2ad5
- Добавил в систему: Мяконьких Андрей Валерьевич