|
ИСТИНА |
Войти в систему Регистрация |
ИСТИНА ИНХС РАН |
||
Выявление дефектов интегральных схем методами морфологического анализа электронномикроскопических изображенийтезисы доклада
- Авторы: Пытьев Ю.П., Терентьев Е.Н., Задорожный С.С., Лукьянов А.Е., Спивак Г.В.
- Сборник: Тех. докл. на Симпоз. по методам подготовки сложных объектов и анал. электр. микр. изображений
- Тезисы
- Год издания: 1976
- Добавил в систему: Пытьев Юрий Петрович