Выберите категорию обращения:
Общие вопросы
Отчеты
Рейтинги
Мониторинговый отчёт
Диссертационные советы
Конкурсы
Ввод данных
Структура организаций
Аспирантура
Научное оборудование
Импорт педагогической нагрузки
Журналы и импакт-факторы
Тема обращения:
Описание проблемы:
Введите почтовый адрес:
ИСТИНА
Войти в систему
Регистрация
ИСТИНА ИНХС РАН
Главная
Поиск
Статистика
О проекте
Помощь
Mathematical Model in X-Ray difractometry for precise reflection Intensity determination
статья
Тезисы
Авторы:
Laktionov A.V.
,
Pyt'ev Yu P.
,
Chulichkov A.
,
CHULICHKOVA N.
,
Fetisov G.V.
,
Aslanov L.A.
Сборник:
12-th European Crystallographic meeting
Том:
3
Год издания:
1989
Место издания:
Moscow
Добавил в систему:
Пытьев Юрий Петрович