|
ИСТИНА |
Войти в систему Регистрация |
ИСТИНА ИНХС РАН |
||
Spectral ellipsometry as a method for characterization of nanosized films with ferromagnetic layersстатья
Информация о цитировании статьи получена из
Scopus,
Web of Science
Статья опубликована в журнале из списка Web of Science и/или Scopus
Дата последнего поиска статьи во внешних источниках: 27 апреля 2022 г.
- Авторы: Hashim H., Singkh S.P., Panina L.V., Pudonin F.A., Sherstnev I.A., Podgornaya S.V., Shpetnyi I.A., Beklemisheva A.V.
- Журнал: Physics of the Solid State
- Том: 59
- Номер: 11
- Год издания: 2017
- Издательство: Pleiades Publishing, Ltd
- Местоположение издательства: Road Town, United Kingdom
- Первая страница: 2211
- Последняя страница: 2215
- DOI: 10.1134/s1063783417110142
- Добавил в систему: Беляев Виктор Константинович