|
ИСТИНА |
Войти в систему Регистрация |
ИСТИНА ИНХС РАН |
||
IN SITU X-RAY REFLECTIVITY FOR THIN -FILM DEPOSITION MONITORING AND CONTROLстатья
Дата последнего поиска статьи во внешних источниках: 1 июня 2022 г.
- Авторы: Baranov A.M., Kondrashov P.E., Smirnov I.S.
- Журнал: Solid State Technology
- Том: 42
- Номер: 5
- Год издания: 1999
- Издательство: PennWell Corp.
- Местоположение издательства: United States
- Первая страница: 53
- Последняя страница: 58
- Добавил в систему: Кондрашов Павел Евгеньевич