Выберите категорию обращения:
Общие вопросы
Отчеты
Рейтинги
Мониторинговый отчёт
Диссертационные советы
Конкурсы
Ввод данных
Структура организаций
Аспирантура
Научное оборудование
Импорт педагогической нагрузки
Журналы и импакт-факторы
Тема обращения:
Описание проблемы:
Введите почтовый адрес:
ИСТИНА
Войти в систему
Регистрация
ИСТИНА ИНХС РАН
Главная
Поиск
Статистика
О проекте
Помощь
IN SITU X-RAY REFLECTIVITY FOR THIN -FILM DEPOSITION MONITORING AND CONTROL
статья
Статья опубликована в журнале из списка Web of Science и/или Scopus
Дата последнего поиска статьи во внешних источниках: 1 июня 2022 г.
Авторы:
Baranov A.M.
,
Kondrashov P.E.
,
Smirnov I.S.
Журнал:
Solid State Technology
Том:
42
Номер:
5
Год издания:
1999
Издательство:
PennWell Corp.
Местоположение издательства:
United States
Первая страница:
53
Последняя страница:
58
Добавил в систему:
Кондрашов Павел Евгеньевич