Выберите категорию обращения:
Общие вопросы
Отчеты
Рейтинги
Мониторинговый отчёт
Диссертационные советы
Конкурсы
Ввод данных
Структура организаций
Аспирантура
Научное оборудование
Импорт педагогической нагрузки
Журналы и импакт-факторы
Тема обращения:
Описание проблемы:
Введите почтовый адрес:
ИСТИНА
Войти в систему
Регистрация
ИСТИНА ИНХС РАН
Главная
Поиск
Статистика
О проекте
Помощь
Изучение плотности состояний О(F)2s,2р-электронов в ThO2 и ThF4 рентгеноспектральными методами
статья
Авторы:
Тетерин А.Ю.
,
Рыжков М.В.
,
Тетерин Ю.А.
,
Курмаев Э.З.
,
Маслаков К.И.
,
Иванов К.Е.
,
Федоренко В.В.
,
Елохина Л.В.
Журнал:
Известия Академии Инженерных Наук им. А.М. Прохорова
Номер:
1
Год издания:
2013
Первая страница:
73
Последняя страница:
79
Добавил в систему:
Тетерин Юрий Александрович