|
ИСТИНА |
Войти в систему Регистрация |
ИСТИНА ИНХС РАН |
||
Theoretical and experimental study of the josephson effect in submicron SN-N-NS structuresстатья
- Авторы: Baryshev Y.P., Vasil'ev A.G., Dmitriyev A.A., Kupriyanov M.Y., Lukichev V.F., Luk'yanova I.Y., Sokolova I.S.
- Журнал: Lithography in microelectronics
- Том: 8
- Год издания: 1989
- Первая страница: 187
- Последняя страница: 197
- Добавил в систему: Куприянов Михаил Юрьевич
Прикрепленные файлы
| № | Имя | Описание | Имя файла | Размер | Добавлен |
|---|---|---|---|---|---|
| 1. | fizti_1.pdf | fizti_1.pdf | 942,2 КБ | 6 апреля 2016 [mkupr] |