|
ИСТИНА |
Войти в систему Регистрация |
ИСТИНА ИНХС РАН |
||
Метод получения объемных характеристик микроструктуры в РЭМ по сериям дефокусированных изображений и стереоизображениямтезисы доклада
- Авторы: Соколов В.Н., Разгулина О.В., Юрковец Д.И., Чернов М.С.
- Сборник: Тезисы докладов XVIII Российского симпозиума по растровой электронной микроскопии и аналитическим методам исследования твердых тел. Черноголовка. 03-06.06.2013
- Тезисы
- Год издания: 2013
- Место издания: ИПТМ РАН Черноголовка
- Первая страница: 412
- Последняя страница: 412
- Добавил в систему: Соколов Вячеслав Николаевич