|
ИСТИНА |
Войти в систему Регистрация |
ИСТИНА ИНХС РАН |
||
Large thickness-dependent improvement of crystallographic texture of CVD silicon films on R-sapphireстатья
Информация о цитировании статьи получена из
Web of Science,
Scopus
Статья опубликована в журнале из списка Web of Science и/или Scopus
Дата последнего поиска статьи во внешних источниках: 4 февраля 2014 г.
- Авторы: Moyzykh M., Amelichev V., Samoilenkov S., Vasiliev A., Kaul A.
- Журнал: Journal of Crystal Growth
- Том: 383
- Год издания: 2013
- Издательство: Elsevier BV
- Местоположение издательства: Netherlands
- Первая страница: 145
- Последняя страница: 150
- Добавил в систему: Кауль Андрей Рафаилович