|
ИСТИНА |
Войти в систему Регистрация |
ИСТИНА ИНХС РАН |
||
In Situ Coupling Applied Voltage and Synchrotron Radiation: Operando Characterization of Transistorsстатья Исследовательская статья
Статья опубликована в высокорейтинговом журнале
Статья опубликована в журнале из списка Web of Science и/или Scopus- Авторы: Davydok Anton, Luponosov Yuriy N., Ponomarenko Sergey A., Grigorian Souren
- Журнал: Nanoscale Research Letters
- Том: 17
- Номер: 1
- Год издания: 2022
- Издательство: Springer Verlag
- Местоположение издательства: Germany
- DOI: 10.1186/s11671-022-03662-y
- Добавил в систему: Лупоносов Юрий Николаевич
Прикрепленные файлы
| № | Имя | Описание | Имя файла | Размер | Добавлен |
|---|---|---|---|---|---|
| 1. | 2022_Nanoscale_RL_Operando_Characterization_of_OFETs.pdf | 2022_Nanoscale_RL_Operando_Characterization_of_OFETs.pdf | 3,4 МБ | 19 декабря 2022 [raslyn] |