|
ИСТИНА |
Войти в систему Регистрация |
ИСТИНА ИНХС РАН |
||
Practical Aspects of X-Ray Mapping in Electron Probe Microanalysis of Mineralsстатья
Статья опубликована в высокорейтинговом журнале
Статья опубликована в журнале из списка Web of Science и/или ScopusДата последнего поиска статьи во внешних источниках: 27 июля 2022 г.
- Авторы: Goemann Karsten, Abersteiner Adam, Kamenetsky Vadim S.
- Журнал: Microscopy and Microanalysis
- Том: 28
- Номер: S1
- Год издания: 2022
- Издательство: Cambridge University Press
- Местоположение издательства: United Kingdom
- Первая страница: 510
- Последняя страница: 512
- DOI: 10.1017/s1431927622002677
- Добавил в систему: Каменецкий Вадим Семенович