|
ИСТИНА |
Войти в систему Регистрация |
ИСТИНА ИНХС РАН |
||
Возможно ли увеличение информативности электронно-микроскопического исследования ВТСП путём Y-модулированного детектирования и анализа сканограмм с использованием дискретного дифференциального оператора на свёртке сепарабельными целочисленными фильтрами?тезисы доклада
- Авторы: Александров П.Л., Градов О.В., Маклакова И.А.
- Сборник: Объединенная конференция "Электронно-лучевые технологии и ренгеновская оптика в микроэлектронике" КЭЛТ-2021
- Тезисы
- Год издания: 2021
- Место издания: ООО "ФУТУРИС ПРИНТ" Москва
- Первая страница: 71
- Последняя страница: 73
- Добавил в систему: Gradov Oleg V.
Прикрепленные файлы
| № | Имя | Описание | Имя файла | Размер | Добавлен |
|---|---|---|---|---|---|
| 1. | Полный текст | VTSP_YMD_SEM.pdf | 821,6 КБ | 1 августа 2022 [gradov] |