|
ИСТИНА |
Войти в систему Регистрация |
ИСТИНА ИНХС РАН |
||
Численное моделирование изображений наночастиц в ближнепольной сканирующей оптической микроскопиистатья
Статья опубликована в журнале из списка RSCI Web of Science
Статья опубликована в журнале из перечня ВАК- Авторы: Белотелов В.И., Пятаков А.П., Звездин А.К., Котов В.А., Логгинов А.С.
- Журнал: Журнал технической физики
- Том: 73
- Номер: 1
- Год издания: 2003
- Издательство: Наука
- Местоположение издательства: СПб.
- Первая страница: 3
- Последняя страница: 9
- Аннотация: Теоретически рассматривается наблюдение магнитных и немагнитных наночастиц в ближнепольной сканирующей микроскопии в режиме сбора фотонов. Приводится основанный на использовании метода тензорных электродинамических функций Грина теоретический подход к нахождению оптического ближнего поля при данной конфигурации наблюдения. При помощи численного моделирования получены характерные изображения наночастиц различной формы. Показано, что на топографических особенностях исследуемых объектов (края и углы частицы) вследствие граничных условий происходит изменение плоскости поляризации излучения, что осложняет наблюдение магнитной структуры наночастицы магнитооптическим методом. Вместе с тем ближнепольное исследование распределения намагниченности в однородных тонких пленках является более эффективным, поскольку в этом случае поворот плоскости поляризации в основном обусловлен магнитными особенностями образца.
- Добавил в систему: Пятаков Александр Павлович