Аннотация:Трехслойные тонкопленочные магнитные структуры NiFe/IrMn/NiFe, полученные методом магнетронного распыления на постоянном токе в присутствии постоянного магнитного поля 420 Э, исследованы методом ферромагнитного резонанса (ФМР). Для образцов с жесткими Ni40Fe60 и мягкими Ni75Fe25 ферромагнитными слоями одинаковой толщины 10 нм проведено сравнение зависимостей обменного смещения, угла рассогласования между одноосной и однонаправленной анизотропией и ширины линии ФМР от толщины антиферромагнитного слоя IrMn в диапазоне от 2 до 50 нм. Возможные причины наблюдаемых зависимостей обсуждаются с использованием данных других авторов, а также наших предыдущих данных для двухслойных структур.