Аннотация:Методы магнитной силовой микроскопии совместно с измерениями магнитныххарактеристик до и после воздействия импульсами слабого магнитного поля (10…100кА/м)низкой частоты (10…20Гц) использованы для изучения особенностей состояния поверхности,определяющих доменную структуру, магнитные свойства и магнитные потери приперемагничивании ленточных аморфных сплавов Fe(Ni, Cu)(SiB).