Выберите категорию обращения:
Общие вопросы
Отчеты
Рейтинги
Мониторинговый отчёт
Диссертационные советы
Конкурсы
Ввод данных
Структура организаций
Аспирантура
Научное оборудование
Импорт педагогической нагрузки
Журналы и импакт-факторы
Тема обращения:
Описание проблемы:
Введите почтовый адрес:
ИСТИНА
Войти в систему
Регистрация
ИСТИНА ИНХС РАН
Главная
Поиск
Статистика
О проекте
Помощь
RNA Charging Effect Registration under the SEM Electron Beam: Novel Multi-Angle Techniques based on Vectorscopes or Waveform Monitors
тезисы доклада
Авторы:
Gradov O.V.
,
Gradova M.A.
,
Maklakova I.A.
,
Alexandrov P.L.
,
Ratnovskaya A.V.
Сборник:
XXIX Российская конференция по электронной микроскопии «Современные методы электронной, зондовой микроскопии и комплементарных методов исследованиях наноструктур и наноматериалов». г. Москва, 29 – 31 августа 2022
Тезисы
Год издания:
2022
Место издания:
ФНИЦ «Кристаллография и фотоника» РАН
Первая страница:
214
Последняя страница:
217
Добавил в систему:
Gradov Oleg V.