|
ИСТИНА |
Войти в систему Регистрация |
ИСТИНА ИНХС РАН |
||
Атомно-силовая микроскопия аморфных электротехнических сплавов Fe(Ni, Cu)(SiB)статья Исследовательская статья
- Авторы: Каминская Т.П., Шипко М.Н., Степович М.А., Попов В.В., Тихонов А.И.
- Журнал: Проблемы разработки перспективных микро- и наноэлектронных систем МЭС
- Год издания: 2022
- Издательство: Институт проблем проектирования в микроэлектронике РАН
- Местоположение издательства: Москва
- Первая страница: 206
- Последняя страница: 211
- DOI: 10.31114/2078-7707-2022-3-206-211
- Аннотация: Методами атомно-силовой микроскопии изучена поверхность образцов аморфной электротехнческой стали (фольги) Fe(Ni, Cu)(SiB) толщиной около 100 мкм, шириной 10 мм, длиной 50 мм, которая была получена методом сверхбыстрого охлаждения при раcпылении расплава на вращающемся барабане. На контактной поверхности фольги обнаружены характерные структурные элементы, наличие которых в различных местах поверхности может существенно влиять на электротехнические свойства материала.
- Добавил в систему: Каминская Татьяна Петровна