|
ИСТИНА |
Войти в систему Регистрация |
ИСТИНА ИНХС РАН |
||
Атомно-силовая микроскопия аморфных электротехнических сплавов Fe(Ni, Cu)(SiB)статья Исследовательская статья
- Авторы: Каминская Т.П., Шипко М.Н., Степович М.А., Попов В.В., Тихонов А.И.
- Сборник: Проблемы разработки перспективных микро- и наноэлектронных систем-2022: Сборник трудов / Под общ. ред. академика РАН А.Л. Стемпковского
- Серия: Вып. III
- Год издания: 2022
- Место издания: ИППМ РАН г.Москва
- Первая страница: 206
- Последняя страница: 211
- DOI: 10.31114/2078-7707-2022-3-206-211
- Аннотация: Методами атомно-силовой микроскопии изучена поверхность образцов аморфной электротехнческой стали (фольги) Fe(Ni, Cu)(SiB) толщиной около 100 мкм, шириной 10 мм, длиной 50 мм, которая была получена методом сверхбыстрого охлаждения при раcпылении расплава на вращающемся барабане. На контактной поверхности фольги обнаружены характерные структурные элементы, наличие которых в различных местах поверхности может существенно влиять на электротехнические свойства материала.
- Добавил в систему: Каминская Татьяна Петровна