|
ИСТИНА |
Войти в систему Регистрация |
ИСТИНА ИНХС РАН |
||
X-Ray reflectivity study of porous GaAs layersтезисы доклада
- Авторы: Sutyrin A., Lomov A., Bushuev V.
- Сборник: Abstr. 7th Biennail Conf. on High Resolution X-Ray Diffraction and Imaging (XTOP-2004, 7-10 Sep. 2004, Prague, Czech. Republic), 2004, P. P-83,
- Тезисы
- Год издания: 2004
- Место издания: Prague
- Первая страница: 83
- Последняя страница: 83
- Добавил в систему: Бушуев Владимир Алексеевич