|
ИСТИНА |
Войти в систему Регистрация |
ИСТИНА ИНХС РАН |
||
Optical Method for Detection of Microwave Field Caused Breakdown in Semiconductorsстатья
Информация о цитировании статьи получена из
Web of Science
Дата последнего поиска статьи во внешних источниках: 27 мая 2015 г.
- Авторы: Akimov M.I., Kozar A.V.
- Сборник: OPTICAL TECHNOLOGY FOR MICROWAVE APPLICATIONS VI AND OPTOELECTRONIC SIGNAL PROCESSING FOR PHASED-ARRAY ANTENNAS III
- Серия: PROCEEDINGS OF THE SOCIETY OF PHOTO-OPTICAL INSTRUMENTATION ENGINEERS (SPIE)
- Том: 1703
- Год издания: 1992
- Место издания: SPIE - INT SOC OPTICAL ENGINEERING BELLINGHAM
- Первая страница: 95
- Последняя страница: 101
- DOI: 10.1117/12.138386
- Добавил в систему: Козарь Анатолий Викторович