Выберите категорию обращения:
Общие вопросы
Отчеты
Рейтинги
Мониторинговый отчёт
Диссертационные советы
Конкурсы
Ввод данных
Структура организаций
Аспирантура
Научное оборудование
Импорт педагогической нагрузки
Журналы и импакт-факторы
Тема обращения:
Описание проблемы:
Введите почтовый адрес:
ИСТИНА
Войти в систему
Регистрация
ИСТИНА ИНХС РАН
Главная
Поиск
Статистика
О проекте
Помощь
Thickness Dependence of Neel Temperature for Ultrathin YFeO3 Films
тезисы доклада
Авторы:
Izyurov V.V.,
Andreeva M.A.
,
Baulin R.A.
, Nosov A.P., Gribov I.V., Kondratev O.A., Subbotin I.A., Pashaev E.M.
Сборник:
XVI Международной конференции «Мессбауэровская спектроскопия и ее применения» (ICMSA-2022)
Тезисы
Год издания:
2022
Место издания:
ИФМ УрО РАН Екатеринбург
Первая страница:
64
Последняя страница:
65
Добавил в систему:
Баулин Роман Алексеевич