|
ИСТИНА |
Войти в систему Регистрация |
ИСТИНА ИНХС РАН |
||
Reliable optical characterization of e-beam evaporated TiO2 films deposited at different substrate temperaturesстатья
Информация о цитировании статьи получена из
Web of Science,
Scopus
Статья опубликована в журнале из списка Web of Science и/или Scopus
Дата последнего поиска статьи во внешних источниках: 23 октября 2015 г.
- Авторы: Amotchkina T., Trubetskov M., Tikhonravov A., Angelov I.B., Pervak V.
- Журнал: Applied optics
- Том: 53
- Номер: 4
- Год издания: 2014
- Издательство: Optical Society of America
- Местоположение издательства: United States
- Первая страница: A8
- Последняя страница: A15
- DOI: 10.1364/AO.53.0000A8
- Аннотация: We studied e-beam evaporated TiO2 films deposited at two different substrate temperatures between 120°C and 300°C. We reliably characterized the film samples on the basis of in situ and ex situ measurements. We carried out annealing on the samples and studied the induced changes in the properties of the films. The results can be useful for further laser-induced damage threshold investigations.
- Добавил в систему: Трубецков Михаил Кириллович