|
ИСТИНА |
Войти в систему Регистрация |
ИСТИНА ИНХС РАН |
||
Структуроскопия ферромагнитных изделий в режиме приложенного поля постоянных магнитовстатья
- Авторы: Захаров В.А., Молин С.М., Леньков С.В., Безлюдько Г.Я.
- Журнал: В мире неразрушающего контроля
- Том: 19
- Номер: 2
- Год издания: 2016
- Первая страница: 50
- Последняя страница: 54
- Аннотация: Магнитная структуроскопия с применением двухполюсных намагничивающих устройств широко используется для неразрушающей оценки свойств и напряженно-деформированного состояния различных ферромагнитных изделий. Недостатком известных структуроскопов, работающих в режиме приложенного поля и использующих в качестве магнитного параметра «внутреннее поле» материала контролируемого изделия, является наличие электромагнита, усложняющего датчик и требующего больших энергозатрат. В статье приводятся теоретические и экспериментальные исследования магнитной цепи приставного намагничивающего устройства, в котором ферромагнитные участки электромагнита с высокой магнитной проницаемостью и катушками намагничивания заменены постоянными магнитами. Показана возможность непрерывного, с небольшими энергозатратами, определения структурного состояния изделий, в частности, напряженно-деформированного или усталостного состояния объектов, находящихся в эксплуатации.
- Добавил в систему: Молин Сергей Михайлович