Аннотация:Предлагается методика определения качества гетероструктуры серийного мощного лазерного диода с широким контактом по токовой зависимости количества каналов генерации излучения на начальной стадии эксплуатации. Показано, что распад излучения на отдельные нефазированные каналы генерации связан с изменением длины когерентности излучения.