Выберите категорию обращения:
Общие вопросы
Отчеты
Рейтинги
Мониторинговый отчёт
Диссертационные советы
Конкурсы
Ввод данных
Структура организаций
Аспирантура
Научное оборудование
Импорт педагогической нагрузки
Журналы и импакт-факторы
Тема обращения:
Описание проблемы:
Введите почтовый адрес:
ИСТИНА
Войти в систему
Регистрация
ИСТИНА ИНХС РАН
Главная
Поиск
Статистика
О проекте
Помощь
Technique for investigation of the shape changes of wafers and thin-film membranes by using geomorphometric approaches
статья
Статья опубликована в журнале из списка Web of Science и/или Scopus
Авторы:
Dedkova A.A.
,
Florinsky I.V.
,
Djuzhev N.A.
Журнал:
Technical Physics
Том:
92
Номер:
8
Год издания:
2022
Издательство:
Maik Nauka/Interperiodica Publishing
Местоположение издательства:
Russian Federation
Первая страница:
933
Последняя страница:
942
DOI:
10.21883/TP.2022.08.54553.101-22
Добавил в систему:
Флоринский Игорь Васильевич