|
ИСТИНА |
Войти в систему Регистрация |
ИСТИНА ИНХС РАН |
||
Анализ формул для расчета основных характеристик отраженных электронов и сравнение с экспериментальными результатамистатья
Статья опубликована в журнале из списка RSCI Web of Science
Статья опубликована в журнале из перечня ВАКСтатья опубликована в журнале из списка Web of Science и/или Scopus
Дата последнего поиска статьи во внешних источниках: 28 мая 2015 г.
- Авторы: Рау Э.И., Дицман С.А., Зайцев С.В., Лермонтов Н.В., Лукьянов А.Е., Купреенко С.Ю.
- Журнал: Известия Российской академии наук. Серия физическая
- Том: 77
- Номер: 8
- Год издания: 2013
- Первая страница: 1050
- Последняя страница: 1058
- DOI: 10.7868/S036767651308036Х
- Аннотация: Выведены полуэмпирические соотношения для основных параметров отраженных электронов в растровом электронном микроскопе: коэффициента отражения, средней и наиболее вероятной энергии, энергетических спектров, зависимости энергии отраженных электронов от угла выхода. Показано, что характеристика энергетической зависимости имеет мексимум в области углов отраженных электронов О=65-70.
- Добавил в систему: Рау Эдуард Иванович
Прикрепленные файлы
| № | Имя | Описание | Имя файла | Размер | Добавлен |
|---|---|---|---|---|---|
| 1. | Полный текст | IZVESTIYa_RAN._SERIYa_FIZIChESKAYa_2013_tom_77_No_8_s._1050… | 28,4 МБ | 27 февраля 2017 [KupreenkoSU] |