Аннотация:В настоящее время в области микроэлектроники активно применяется реверс-инжиниринг. Обычно для этого используют методы послойного анализа, которые позволяют определять не только дефекты производства, но и восстанавливать архитектуру микросхем. Одним из таких методов является Оже-электронная спектроскопия (ОЭС) с послойным ионным травлением. Данная работа посвященаразработке программного комплекса по обработке и анализу экспериментальных Оже-электронных спектров. В ходе работы была выявлена некоторая проблематика как в обнаружении сигнала в спектре (идентификация слабого сигнала), так и в принадлежности сигнала конкретному химическому элементу. На сегодняшний день разработанный программный комплекс проводит качественный и количественный анализ экспериментальных данных в полуавтоматическом режиме.