|
ИСТИНА |
Войти в систему Регистрация |
ИСТИНА ИНХС РАН |
||
Self-trapping of the d-d charge transfer exciton in bulk NiO evidenced by X-ray excited luminescenceстатья
- Авторы: Sokolov V.I., Pustovarov V.A., Churmanov V.N., Ivanov V.Yu, Gruzdev N.B., Sokolov P.S., Baranov A.N., Moskvin A.S.
- Журнал: Pisma v ZhETF
- Том: 95
- Номер: 10
- Год издания: 2012
- Первая страница: 595
- Последняя страница: 600
- Добавил в систему: Баранов Андрей Николаевич
Прикрепленные файлы
| № | Имя | Описание | Имя файла | Размер | Добавлен |
|---|---|---|---|---|---|
| 1. | NiO-JETPLett.pdf | NiO-JETPLett.pdf | 321,5 КБ | 29 мая 2012 [anb@inorg.chem.msu.ru] |