Выберите категорию обращения:
Общие вопросы
Отчеты
Рейтинги
Мониторинговый отчёт
Диссертационные советы
Конкурсы
Ввод данных
Структура организаций
Аспирантура
Научное оборудование
Импорт педагогической нагрузки
Журналы и импакт-факторы
Тема обращения:
Описание проблемы:
Введите почтовый адрес:
ИСТИНА
Войти в систему
Регистрация
ИСТИНА ИНХС РАН
Главная
Поиск
Статистика
О проекте
Помощь
Integration of scanning near field polarization optical microscopy and atomic force microscopy for investigation of magnetic and ferroelectric materials
статья
Авторы:
Vysokikh Yury,
Shevyakov Vasiliy
,
Shaposhnikov Alexandr
,
Prokopov Anatoliy
,
Shelaev Artem
Сборник:
2017 IEEE Conference of Russian Young Researchers in Electrical and Electronic Engineering (EIConRus)
Год издания:
2017
Издательство:
Institute of Electrical and Electronics Engineers
Местоположение издательства:
Piscataway, NJ, United States
DOI:
10.1109/eiconrus.2017.7910843
Добавил в систему:
Шелаев Артём Викторович