Выберите категорию обращения:
Общие вопросы
Отчеты
Рейтинги
Мониторинговый отчёт
Диссертационные советы
Конкурсы
Ввод данных
Структура организаций
Аспирантура
Научное оборудование
Импорт педагогической нагрузки
Журналы и импакт-факторы
Тема обращения:
Описание проблемы:
Введите почтовый адрес:
ИСТИНА
Войти в систему
Регистрация
ИСТИНА ИНХС РАН
Главная
Поиск
Статистика
О проекте
Помощь
Рентгенодифракционное исследование структуры пленок In0.53Ga0.47As, выращенных в низкотемпературном режиме на подложках GaAs (100) и (111)A с метаморфным буфером
тезисы доклада
Авторы:
Жернова В.А.
,
Фоломешкин М.С.
,
Волковский Ю.А.
,
Просеков П.А.
, Галиев Г.Б., Климов Е.А., Пушкарев С.С.,
Писаревский Ю.В.
,
Благов А.Е.
,
Ковальчук М.В.
Сборник:
Современная рентгеновская оптика-2022
Тезисы
Год издания:
2022
Первая страница:
25
Последняя страница:
26
Добавил в систему:
Жернова Владислава Александровна