|
ИСТИНА |
Войти в систему Регистрация |
ИСТИНА ИНХС РАН |
||
Рентгенодифракционное исследование структуры пленок In0.53Ga0.47As, выращенных в низкотемпературном режиме на подложках GaAs (100) и (111)A с метаморфным буферомтезисы доклада
- Авторы: Жернова В.А., Фоломешкин М.С., Волковский Ю.А., Просеков П.А., Галиев Г.Б., Климов Е.А., Пушкарев С.С., Писаревский Ю.В., Благов А.Е., Ковальчук М.В.
- Сборник: Современная рентгеновская оптика-2022
- Тезисы
- Год издания: 2022
- Первая страница: 25
- Последняя страница: 26
- Добавил в систему: Жернова Владислава Александровна