|
ИСТИНА |
Войти в систему Регистрация |
ИСТИНА ИНХС РАН |
||
Рецензия на книгу J. Willis, C. Feather \cyrchar\cyri K. Turner “Guidelines for XRF Analysis. Setting up programmes for WDXRF and EDXRF”. Printed in South Africa by Shumani Mills Communications”, 2014, 519 pp. ISBN 978-0-620-62961-4статья
Статья опубликована в журнале из списка RSCI Web of Science
Статья опубликована в журнале из перечня ВАКСтатья опубликована в журнале из списка Web of Science и/или Scopus
- Автор: Ревенко А.Г.
- Журнал: Аналитика и контроль
- Том: 24
- Номер: 4
- Год издания: 2020
- Издательство: Федеральное государственное автономное образовательное учреждение высшего профессионального образования Уральский федеральный университет им. первого Президента России Б.Н. Ельцина
- Местоположение издательства: Екатеринбург
- Первая страница: 323
- Последняя страница: 327
- DOI: 10.15826/analitika.2020.24.4.007
- Аннотация: Рентгенофлуоресцентный анализ находит всё более широкое применение в различных областях знания и отраслях промышленности. Одной из особенностей развития метода на современном этапе является существенное превышение производства рентгеновских спектрометров по сравнению с подготовкой специалистов, владеющих знаниями для грамотного использования аппаратуры. Вследствие этого важное значение имеют руководства и спра- вочники, помогающие корректно выбирать оптимальные условия измерения интенсивностей аналитических линий определяемых элементов и способы перевода экспериментальных интенсивностей в концентрации. В работе представлена информация о книге J. Willis, C. Feather и K. Turner “Guidelines for XRF Analysis. Setting up programmes for WDXRF and EDXRF”. Материал представлен на 518 страницах, иллюстрирован 250 рисунками и содержит 131 таблицу. В рецензии изложенный материал обсуждается по главам. В первых 7 главах книги изложена информация по теоретическим и техническим основам РФА. В самой объёмной шестой главе “Условия измерения и аналитические программы” последовательно излагается информация по аспектам выбора инструментальных параметров, аналитических линий, угловых позиций для оценки интенсивности фона и вклада спектральных наложений. Во второй секции рассмотрены рекомендации по выбору аналитических параметров для исследования содержаний отдельных элементов от F до U обычно определяемым с применением РФА на уровне следов (главы 8-15). В третьей секции авторы аналогично рассмотрели рекомендации по выбору аналитических параметров для исследования содержаний отдельных элементов для конкретных типичных материалов (главы 17-31). Авторы подготовили справочное руководство хорошего качества, полезное как для начинающих, так и для квалифицированных специалистов.
- Добавил в систему: Ахметжанов Тимур Фаритович