|
ИСТИНА |
Войти в систему Регистрация |
ИСТИНА ИНХС РАН |
||
О сложности тестирования логических устройств на некоторые типы неисправностейстатья
- Автор: Икрамов А.А.
- Журнал: Интеллектуальные системы. Теория и приложения (ранее: Интеллектуальные системы по 2014, № 2, ISSN 2075-9460)
- Том: 17
- Номер: 1-4
- Год издания: 2013
- Издательство: [б.и.]
- Местоположение издательства: М.
- Первая страница: 311
- Последняя страница: 313
- Добавил в систему: Икрамов Алишер Акрамович