|
ИСТИНА |
Войти в систему Регистрация |
ИСТИНА ИНХС РАН |
||
Nuclear Reactions Contribution to Spacecraft On-Board Electronics Failuresстатья
Информация о цитировании статьи получена из
Scopus
Статья опубликована в журнале из списка Web of Science и/или Scopus
Дата последнего поиска статьи во внешних источниках: 1 мая 2024 г.
- Авторы: Chechenin N.G., Novikov N.V., Shirokova A.A.
- Журнал: Physics of Atomic Nuclei
- Том: 86
- Номер: 2
- Год издания: 2023
- Издательство: Pleiades Publishing, Ltd
- Местоположение издательства: Road Town, United Kingdom
- Первая страница: 188
- Последняя страница: 197
- Номер статьи: 2
- DOI: 10.1134/S1063778823020047
- Аннотация: We give a brief analysis of the probability of spacecraft on-board electronics (OBE) failuresunder influence of primary space radiation and products of nuclear reactions, which have a significantly higher ionizing capability. Modern advanced programs based on current nuclear reaction database can help to provide the description of the nuclear residuals’ distributions over charge, mass and kinetic energy,which can be used to estimate the probability and rate of the Single Event Effects (SEE). The obtained results can be used to estimate the upset volume and predict whether a single bit or multiple bits will be upset in a device with certain radiation hardness. A possible contribution of extreme fluctuations in ionizingpower of the incident particles in the OBE materials is also discussed
- Добавил в систему: Широкова Алла Анатольевна
Прикрепленные файлы
| № | Имя | Описание | Имя файла | Размер | Добавлен |
|---|---|---|---|---|---|
| 1. | Полный текст | chechenin_novikov_shirokova_YaF_2023_b9AkVAp.pdf | 1,3 МБ | 17 мая 2024 [novikov1965] | |
| 2. | Полный текст | chechenin_novikov_shirokova_YaF_2023.pdf | 1,3 МБ | 17 мая 2024 [novikov1965] |