Аннотация:Представлены результаты исследования влияния толщины пленок La0.7Sr0.3MnO3, полученных магнетронным распылением на подложки (110) NdGaO3, на магнитные и кристаллографические свойства с помощью ферромагнитного резонанса и рентгеновской спектроскопии. Установлены зависимости полей одноосной и кубической анизотропии от толщины образца. Показано, что магнитные и кристаллографические свойства пленки, полученной магнетронным распылением, сильно зависят от области мишени, из которой она изготовлена. Полученные результаты будут полезны для интерпретации экспериментальных данных, а также при создании серий образцов.