От поверхности к объему: трехмерные презентации данных СЗМ

Автор: Филонов A.
Журнал: Наноиндустрия
Номер: 5
Год издания: 2010
Издательство: АО "Рекламно-издательский центр "Техносфера"
Местоположение издательства: Москва
Первая страница: 64
Последняя страница: 66
Аннотация: Заглянуть в наномир простым глазом не получается – нужен очень острый глаз, как игла кантилевера зондового микроскопа. Именно этот инструмент является одним из наиболее востребованных при изучении свойств поверхности в масштабе «нано». В мире существует десятки, если не сотни, производителей зондовых микроскопов. У каждой модели – свое программное обеспечение (ПО) для сбора данных. На выходе получаются довольно большие массивы чисел – топография поверхности, распределение сил трения, жесткости, вязкости, проводимости…
Добавил в систему: Мешков Георгий Борисович

	ИСТИНА	Войти в систему Регистрация
	ИСТИНА ИНХС РАН
	Главная Поиск Статистика О проекте Помощь

ИСТИНА