|
ИСТИНА |
Войти в систему Регистрация |
ИСТИНА ИНХС РАН |
||
Microscope successful to see through the uppermost atomic layer of single crystal: Principles and applicationsтезисы доклада
- Авторы: Samoilov V.N., Tatur A.E.
- Сборник: Abstracts of 5th International Conference on Computer Simulation of Radiation Effects in Solids (COSIRES 2000), State College, Pa., U.S.A., 24-28 July 2000
- Тезисы
- Год издания: 2000
- Первая страница: 154
- Последняя страница: 154
- Добавил в систему: Самойлов Владимир Николаевич