Выберите категорию обращения:
Общие вопросы
Отчеты
Рейтинги
Мониторинговый отчёт
Диссертационные советы
Конкурсы
Ввод данных
Структура организаций
Аспирантура
Научное оборудование
Импорт педагогической нагрузки
Журналы и импакт-факторы
Тема обращения:
Описание проблемы:
Введите почтовый адрес:
ИСТИНА
Войти в систему
Регистрация
ИСТИНА ИНХС РАН
Главная
Поиск
Статистика
О проекте
Помощь
Исследование поверхности SnS (100) методами рентгеновской фотоэлектронной спектроскопии и зондовой микроскопии
статья
Авторы:
Яшина Л.В.
,
Волыхов А.А.
,
Васильев С.Ю.
,
Семененко Д.А.
,
Иткис Д.М.
,
Елисеев А.А.
,
Харламова М.В.
,
Вербицкий Н.И.
,
Зюбина Т.С.
,
Белогорохов А.И.
Журнал:
Материалы Электронной техники
Том:
4
Год издания:
2009
Первая страница:
50
Последняя страница:
55
Добавил в систему:
Харламова Марианна Вячеславовна