|
ИСТИНА |
Войти в систему Регистрация |
ИСТИНА ИНХС РАН |
||
Исследование оптических характеристик некристаллических плёнок Ge-Se методом спектроскопической эллипсометриистатья Тезисы
- Авторы: Александрович Е.В., Александрович А.Н., Михеев Г.М.
- Сборник: Труды Международной конференции "Аморфные и микрокристаллические полупроводники"
- Год издания: 2023
- Место издания: ПОЛИТЕХ-ПРЕСС Санкт-Петербург
- Первая страница: 95
- Последняя страница: 96
- Аннотация: Целью настоящей работы являлось получение некристаллических плёнок Ge-Se и определение их дисперсионных зависимостей n(λ) и k(λ), а также других оптических параметров прямым экспериментальным методом спектроскопической эллипсометрии.
- Добавил в систему: Александрович Елена Викторовна