Выберите категорию обращения:
Общие вопросы
Отчеты
Рейтинги
Мониторинговый отчёт
Диссертационные советы
Конкурсы
Ввод данных
Структура организаций
Аспирантура
Научное оборудование
Импорт педагогической нагрузки
Журналы и импакт-факторы
Тема обращения:
Описание проблемы:
Введите почтовый адрес:
ИСТИНА
Войти в систему
Регистрация
ИСТИНА ИНХС РАН
Главная
Поиск
Статистика
О проекте
Помощь
Генерация тестовых данных для системного функционального тестирования микропроцессоров с учетом кэширования и трансляции адресов
статья
Статья опубликована в журнале из списка RSCI Web of Science
Статья опубликована в журнале из перечня ВАК
Автор:
Корныхин Е.В.
Журнал:
Труды Института системного программирования РАН (электронный журнал)
Том:
17
Год издания:
2010
Первая страница:
145
Последняя страница:
160
Добавил в систему:
Корныхин Евгений Валерьевич