|
ИСТИНА |
Войти в систему Регистрация |
ИСТИНА ИНХС РАН |
||
Электронно-микроскопические и рентгенодифракционные исследования наноструктур на основе ZnS в пористых матрицах оксида алюминиястатья
- Авторы: Валеев Р.Г., Хохряков С.В., Бельтюков А.Н.
- Журнал: Вестник Удмуртского университета. Серия Физика и химия
- Номер: 2
- Год издания: 2011
- Первая страница: 8
- Последняя страница: 11
- Добавил в систему: Валеев Ришат Галеевич
Прикрепленные файлы
| № | Имя | Описание | Имя файла | Размер | Добавлен |
|---|---|---|---|---|---|
| 1. | Полный текст | Vestnik_UdGU_2011-4_2_8-11.pdf | 419,3 КБ | 24 мая 2017 [RiVal] |