Essential features of residual stress determination in thin-walled plane structures in a base of whole field interferometric measurementsстатья
Информация о цитировании статьи получена из
Web of Science,
Scopus
Статья опубликована в журнале из списка Web of Science и/или Scopus
Дата последнего поиска статьи во внешних источниках: 5 июня 2017 г.
Авторы:
Pisarev V.S.,
Odintsev I.,
Balalov V.V.,
Apalkov A.